PAT（Part Average Testing）表示(shi)零件(jian)平(ping)均(jun)测(ce)试(shi)，是(shi)一(yi)种(zhong)应(ying)用于(yu)ATE中提(ti)高元器件(jian)品质(zhi)和(he)可靠性的(de)方(fang)法，根据工(gong)艺生(sheng)产能(neng)力(li)的不同(tong)而在测试项中(zhong)加入更(geng)严(yan)格(ge)的测试(shi)范(fan)围。
PAT功(gong)能可分为(wei)静态(tai)与动态两类(lei)。静态PAT通(tong)常应(ying)用于CP及(ji)WLCSP量产(chan)环(huan)节，一整(zheng)片(pian)或(huo)一个(ge)批(pi)次(ci)晶圆完(wan)成测(ce)试后对数据(ju)统计(ji)并(bing)实(shi)施(shi)PAT；而(er)DPAT，亦(yi)称(cheng)动(dong)态(tai)DPAT，通常(chang)应用(yong)于FT量(liang)产环节(jie)，实时(shi)对(dui)数据(ju)实施PAT。
您可(ke)从(cong)本(ben)文(wen)了解(jie)到(dao)：
1. DPAT设定(ding)界面
2. 案(an)例分析(xi)
华(hua)峰(feng)测控(kong)公(gong)众(zhong)号(hao)
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