用户在进行(xing)测(ce)试前(qian)，可(ke)开(kai)启AccoTEST软(ruan)件(jian)内(nei)硬(ying)件配(pei)置(zhi)检(jian)查(cha)功能，软件(jian)将在(zai)每一(yi)次测试(shi)前自(zi)动检查(cha)测试(shi)系(xi)统中(zhong)板卡资源与(yu)测试(shi)程(cheng)序(xu)中多工(gong)位(wei)硬(ying)件绑(bang)定(ding)函(han)数(shu)设(she)置是(shi)否(fou)匹配(pei)，以(yi)此可(ke)一(yi)定程(cheng)度(du)避(bi)免(mian)因板卡资源(yuan)不够导致(zhi)的测试(shi)失效隐患。

STS8300测(ce)试系统(tong)除(chu)了可设置检查硬件配置(zhi)外， THB上(shang)EEPROM芯(xin)片(pian)也可(ke)预先存储(chu)测(ce)试器(qi)件(jian)所(suo)需(xu)的板(ban)卡配置信(xin)息(xi)，测试时(shi)会比(bi)对(dui)EEPROM中的(de)信息和当(dang)前系(xi)统的配(pei)置(zhi)，匹(pi)配后才可(ke)继(ji)续(xu)测试。

EEPROM使(shi)用方式可(ke)参考《测试(shi)防(fang)呆及报警(jing)（2）Config Tool》。