1）POWER插座中(zhong)定(ding)义了5个地(di)线(xian)AGND，PCB布板时(shi)可(ke)将这(zhe)5个(ge)点连(lian)在(zai)一(yi)起，并(bing)采用较(jiao)粗(cu)的(de)线(xian)宽(kuan)，推荐(jian)在正反两(liang)面(mian)将(jiang)空(kong)白空(kong)间(jian)铺(pu)满AGND敷铜(tong)；

2）DUT板上(shang)的(de)插(cha)座(zuo)外(wai)壳和(he)电(dian)缆(lan)的屏蔽(bi)层(ceng)是(shi)相(xiang)连的，所以在设计(ji)PCB时(shi)一定(ding)要把插座的外(wai)壳(ke)和AGND连通，否(fou)则屏(ping)蔽(bi)效果会变(bian)差(cha)；

3）在大电(dian)流的测试中(zhong)FORCE线应(ying)该有足(zu)够的线(xian)宽（通(tong)常(chang)建议(yi)按(an)大于(yu)2A/50 mil线宽(kuan)设(she)计(ji)PCB），尽量避(bi)免采用对(dui)穿(chuan)孔；

4）允(yun)许(xu)一根CBIT线同(tong)时控(kong)制(zhi)多个继(ji)电(dian)器，但(dan)其(qi)总(zong)电流(liu)不(bu)能(neng)超(chao)过(guo)100mA（一般继电器(qi)的工作(zuo)电流(liu)都是(shi)mA级的(de)，也就是(shi)说一(yi)根CBIT线能同时控(kong)制20个继电(dian)器(qi)的开合(he)）。

1）PCB板是(shi)漏电(dian)的最(zui)重要的原(yuan)因(yin)，选(xuan)用高(gao)质量(liang)的(de)板(ban)材是(shi)测试小电(dian)流(liu)的前提(ti)；

2）在(zai)布板(ban)时(shi)尽(jin)量拉(la)大焊(han)盘间(jian)的距(ju)离；

3）在PCB布(bu)线时应在(zai)正反两面(mian)用GUARD线将(jiang)FORCE和SENSE线(xian)完(wan)整地包围(wei)起来，构(gou)成等电位(wei)屏蔽(bi)环，防(fang)止(zhi)与其他不(bu)同(tong)电(dian)位(wei)点(dian)之(zhi)间(jian)的漏(lou)电(dian)；

4）为(wei)防止PCB板线间漏(lou)电，采用飞线其实是(shi)又(you)简单又有(you)效的方法(fa)。

1）一定(ding)要(yao)用英文(wen)输(shu)入法(fa)写代码(ma)，并且(qie)需要区分(fen)大、小写；

2）声明(ming)的(de)变量一定(ding)要(yao)赋(fu)初值（例(li)如：int i=0;）；

3）描(miao)述(shu)测(ce)试参数时，一定(ding)要(yao)特(te)别(bie)注(zhu)意指(zhi)向正确(que)的函(han)数；

4）如(ru)果(guo)是(shi)V1.1.0.3以(yi)前版(ban)本(ben)（包括(kuo)V1.1.0.3）的系(xi)统软(ruan)件，如果(guo)用到(dao)DIO板(ban)，需(xu)要在(zai)程(cheng)序里(li)加入(ru)“#include DIO.h”语(yu)句。如(ru)果(guo)同(tong)时(shi)用(yong)到(dao)QTMU板(ban)，则(ze)QTMU板(ban)的(de)版(ban)本(ben)一(yi)定(ding)要(yao)在V1.3以(yi)上；

5）切(qie)记：系统中(zhong)，电压(ya)单位(wei)缺(que)省(sheng)是V，电(dian)流单(dan)位缺(que)省是(shi)A，频率单位(wei)缺(que)省是KHz，时间(jian)单(dan)位缺(que)省(sheng)是us；

6） 保(bao)存(cun)测(ce)试结果(guo)的(de)数(shu)组，对(dui)于VI源要定义成(cheng)float型一(yi)维(wei)数组(zu)，数组长度(du)大于等于4；对于(yu)ACSM，数组长(zhang)度要大于(yu)10000；QTMU的类型(xing)需要(yao)定义(yi)成(cheng)double类型，数组长度(du)等(deng)于4。例外：DIO板(ban)不(bu)同的(de)函数(shu)返(fan)回值类型(xing)不同，具(ju)体(ti)如下：DIO板读(du)取RAM内(nei)pattern运行(xing)结(jie)果函数――GetSerialPatternResult()返回值(zhi)类型(xing)为DWORD型，十进(jin)制整(zheng)数。

7）在(zai)进(jin)行电压(ya)或(huo)电(dian)流(liu)量程(cheng)切换时，建议在Disable或(huo)Disconnect的(de)状(zhuang)态下进行(xing)，避(bi)免在(zai)切换(huan)量(liang)程时产(chan)生电压(ya)或(huo)电(dian)流(liu)尖峰(feng)；

8）大功率(lv)器件(jian)编(bian)程时，建(jian)议把(ba)小(xiao)负载(zai)参(can)数和(he)大负(fu)载(zai)参数(shu)分成2个函(han)数，这样(yang)即(ji)便因为(wei)接(jie)触(chu)不良(liang)而导(dao)致小负(fu)载输(shu)出(chu)fail时，不会(hui)再继(ji)续运(yun)行大负(fu)载(zai)输出(chu)的(de)测试，保(bao)证(zheng)了(le)测(ce)试的(de)安(an)全(quan)性。

1）如(ru)错(cuo)误(wu)提示(shi)“Cannot open include file: "astdef.h"”。请检(jian)查(cha)include是否添(tian)加(jia)Accotest根目(mu)录下的include文(wen)件(jian)夹。

2）如错误提示“Cannot open file "Ast2k.lib"”。请检查Lib是否添加(jia)Accotest根(gen)目(mu)录(lu)下的(de)Lib文件(jian)夹。

3）如错(cuo)误提示(shi)“Cannot open include file: "windows.h"”。请检(jian)查(cha)include是否添(tian)加(jia)VC软(ruan)件自带include库（VC6.0对(dui)应路径(jing)：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio\VC98\MFC\INCLUDE ；VC2005对(dui)应路径(jing)：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio 8\VC\PlatformSDK\Lib）。

4）如错误提示(shi)“cannot open file "LIBCMTD.lib"”。请检查Lib是否(fou)添(tian)加(jia)VC软件自(zi)带(dai)Lib库（VC6.0对应(ying)路(lu)径(jing)：C:\PROGRAM FILES\MICROSOFT VISUAL STUDIO\VC98\LIB；VC2005对(dui)应路径(jing)：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio 8\VC\PlatformSDK\include）。

通常(chang)情(qing)况下，当测试参数和(he)测(ce)试函(han)数(shu)体(ti)数(shu)目相(xiang)同(tong)，且(qie)一(yi)一(yi)对应时(shi)，测试参数的(de)显(xian)示、测(ce)试顺(shun)序(xu)是一致(zhi)的，由CParam定(ding)义。

但(dan)，当(dang)2个(ge)以(yi)上(shang)的(de)测(ce)试(shi)参数(shu)指向同一(yi)个测(ce)试(shi)函(han)数(shu)体时(shi)，有时显示顺序和(he)测(ce)试(shi)顺序(xu)可能(neng)会(hui)不一(yi)致(zhi)。样例如下：

Void test_A();

Void test_B();

Void test_C();

同(tong)时(shi)我(wo)们又定(ding)义了四(si)个测试参数(shu)：

CParam:a,b,c,d;

在(zai)对四个(ge)测(ce)试(shi)参(can)数(shu)做描述(shu)时，我(wo)们(men)把(ba)参数(shu)a指向了test_A()，把(ba)b和(he)c指(zhi)向(xiang)了(le)test_B()，参(can)数(shu)d指向(xiang)了test_C()。如(ru)果b和(he)c在test_B()的(de)先(xian)后顺(shun)序就(jiu)是(shi)先(xian)b后c。那么(me)我(wo)们的测试(shi)顺序(xu)和屏幕(mu)显(xian)示(shi)顺(shun)序就是(shi)一致的a→b→c→d。如(ru)果在test_B中，我们先编写了(le)参数c的代码(ma)然后编写(xie)了(le)参数(shu)b的代码(ma)。那么在(zai)显示时(shi)的顺序仍(reng)旧是(shi)a→b→c→d，但(dan)实(shi)际(ji)测试(shi)顺(shun)序(xu)却(que)变(bian)成(cheng)了a→c→b→d。

【注意(yi)】需要说(shuo)明(ming)的(de)是(shi)，test_A，test_B，test_C在程序(xu)中(zhong)的位置和顺(shun)序(xu)对测(ce)试(shi)和(he)显(xian)示(shi)顺(shun)序(xu)是没有影响(xiang)的。

【建议(yi)】在(zai)编(bian)写(xie)程(cheng)序时(shi)，特别(bie)注意(yi)test_A, test_B, test_C在(zai)程(cheng)序段(duan)中(zhong)的位置关(guan)系，尽(jin)量保证(zheng)测试(shi)顺序(xu)和(he)显示的顺(shun)序一致。这(zhe)样做的好处是直(zhi)观(guan)，思路清晰(xi)，方(fang)便(bian)对(dui)源(yuan)的(de)调用。

如(ru)果(guo)没(mei)有(you)扫描(miao)参数(shu)，单(dan)工位和(he)多工(gong)位程序是(shi)完(wan)全(quan)相(xiang)同(tong)的，区别在(zai)于(yu)使(shi)用不同的config文件(jian)，由config文件来(lai)控制是单工位测(ce)试还(hai)是多(duo)工位(wei)测试。读出(chu)测试结(jie)果(guo)时，多工位程(cheng)序通(tong)常采用循环(huan)语(yu)句(ju)读(du)取(qu)，数据第一(yi)位是site1的，第二位是(shi)site2的(de)。。。以此类推。比如(ru)下(xia)面(mian)一(yi)段(duan)程(cheng)序(xu)：

for(i=0 ; i<siteID ; i++)

 }

其中(zhong)siteID是要(yao)测(ce)试(shi)的工位(wei)数。当(dang)siteID=4时就(jiu)是四工位(wei)赋值，通(tong)过(guo)上(shang)面(mian)的(de)一段代码(ma)可(ke)以(yi)把(ba)存(cun)放在(zai)数组(zu)adresult[4]中的数据读(du)出来。如测试的(de)结(jie)果是a,b,c,d，adresult[4]={a,b,c,d};那么adresult[0]=a就(jiu)是site1的(de)测(ce)试结果；同理，adresult[1]=b是(shi)site2的值；adresult[2]=c是(shi)site3的(de)值(zhi)；adresult[3]=d是site4的(de)值。

不(bu)建(jian)议(yi)客户(hu)自己修改config文(wen)件(jian)，如(ru)果(guo)需(xu)要(yao)改(gai)动，建(jian)议(yi)请(qing)供应(ying)商帮(bang)忙修(xiu)改。