03-31
2014年3月(yue)19-21日，成(cheng)功(gong)参(can)加Semicon China2014。再次(ci)展(zhan)示(shi)AccoTEST的CROSS概念(nian)，STS8200TWIN模(mo)式(shi)的展(zhan)示，同(tong)时(shi)展示并测和并发测(ce)试(shi)概(gai)念(nian)；STS8203展(zhan)示DC分站，雪崩测(ce)试(shi)，热阻(zu)测(ce)试，Cg/Rg测(ce)试(shi)的一体机方案；STS8250则(ze)是(shi)全新(xin)的(de)测(ce)试(shi)头结(jie)构(gou)的(de)模(mo)拟/混合信号测(ce)试(shi)机的展(zhan)示(shi)。
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