集成(cheng)电(dian)路(lu)测试技(ji)术与产品应用开(kai)发(fa)研(yan)讨会在京(jing)召开

2019年(nian)度第一(yi)期(qi)“集(ji)成(cheng)电(dian)路(lu)测试技术(shu)与产(chan)品(pin)应用(yong)开(kai)发研(yan)讨(tao)会”于5月(yue)27日至(zhi)5月(yue)31日(ri)在北京(jing)华峰测控(kong)技术股份(fen)有(you)限公司(si)北京总(zong)部(bu)召开。

会(hui)上(shang)，来自全国(guo)各器件生产厂家(jia)、元器件检(jian)测筛(shai)选(xuan)中心(xin)的(de)一(yi)线(xian)技术(shu)人(ren)员，共(gong)同就当今(jin)半(ban)导(dao)体行业(ye)测试(shi)技术的热点话题(ti)展(zhan)开讨论与分(fen)享(xiang)。北京(jing)华(hua)峰测(ce)控(kong)技术股份(fen)有(you)限公(gong)司ATE市场部(bu)经理(li)刘(liu)惠(hui)鹏，根(gen)据近(jin)年(nian)来在(zai)大(da)功率(lv)器件交直流(liu)一体(ti)化(hua)测试(shi)上(shang)积(ji)累(lei)的(de)经(jing)验(yan)，以(yi)常(chang)见(jian)的MOSFET为例(li)，详(xiang)细讲(jiang)述(shu)了设(she)备(bei)是(shi)如(ru)何一次(ci)实现(xian)直(zhi)流(liu)、时(shi)间、UIS、Rg、Ciss、Coss、Crss全参(can)数(shu)测试的。同(tong)时(shi)分(fen)享(xiang)了大功率(lv)IPM器(qi)件的(de)解(jie)决方(fang)案(an)和华峰(feng)公司在未(wei)来(lai)新材(cai)料半(ban)导(dao)体(ti)测试(shi)领(ling)域(yu)的预(yu)研(yan)成(cheng)果(guo)。

作为(wei)研讨(tao)会(hui)的第(di)一(yi)个主题(ti)，刘(liu)惠鹏所(suo)讲(jiang)演(yan)的“功(gong)率器(qi)件(jian)动(dong)态参数测(ce)试(shi)技(ji)术(shu)”这(zhe)一(yi)题目，引起(qi)了全(quan)部(bu)参(can)会人(ren)员的极大(da)兴(xing)趣，会(hui)后提(ti)问(wen)交(jiao)流(liu)环(huan)节(jie)长(zhang)达(da)30分(fen)钟，有(you)些问题甚至深入(ru)到(dao)了(le)华峰的(de)专(zhuan)利技(ji)术，可谓擦出了不少“火花(hua)”，精(jing)彩(cai)连(lian)连(lian)！

集(ji)成电(dian)路的(de)测(ce)试(shi)和(he)筛(shai)选，安全(quan)性(xing)格(ge)外(wai)的重要(yao)。如何(he)安(an)全(quan)的使用测试(shi)设备，如(ru)何(he)安全的(de)对(dui)器件(jian)的(de)电(dian)参数(shu)进行检测(ce)，甚至在检(jian)测失效(xiao)时(shi)如何(he)合(he)理的进(jin)行(xing)问题(ti)分析和(he)定位(wei)。本次研讨会针对这(zhe)些(xie)问题，由(you)华(hua)峰测控有(you)着多(duo)年测试实(shi)战经验(yan)的技(ji)术支持工程(cheng)师(shi)周(zhou)昊(hao)鹏、于松涛，以自(zi)己最(zui)擅长(zhang)的领域分(fen)别讲(jiang)述了“如(ru)何(he)安全有效的测试大(da)功率电源管理(li)类(lei)器(qi)件(jian)”和“如(ru)何安(an)全(quan)有(you)效的测(ce)试CMOS4000电(dian)路”两个(ge)话(hua)题。

随着(zhe)国(guo)内半导体(ti)行(xing)业(ye)的(de)飞速(su)发展，测试(shi)对象的复杂程度与日(ri)俱增(zeng)，同时也(ye)对(dui)测(ce)试(shi)设备(bei)提(ti)出了更(geng)高(gao)的(de)要求(qiu)。本次(ci)研讨会(hui)上，华(hua)峰(feng)测控针(zhen)对(dui)STS6100大(da)规模(mo)数(shu)字(zi)集成(cheng)电路(lu)测(ce)试系(xi)统(tong)上的(de)高(gao)级(ji)编程语(yu)言(yan)进(jin)行了(le)讲(jiang)解(jie)，有(you)了(le)这(zhe)种底层高(gao)级(ji)开发语(yu)言(yan)，可(ke)以更方(fang)便(bian)的(de)让测试工(gong)程(cheng)师根(gen)据器件参数的具(ju)体要求实(shi)现(xian)测(ce)试(shi)，在(zai)测试(shi)设备便捷性的(de)基(ji)础(chu)上增加灵活性，摆脱(tuo)固有(you)测(ce)试(shi)参(can)数的(de)局限(xian)。

STS8207S作为(wei)全新(xin)的(de)模拟器(qi)件测试机，在(zai)运算放大(da)器的(de)测试(shi)上(shang)继续着(zhe)华(hua)峰(feng)精(jing)益(yi)求精、追求极(ji)致的(de)特(te)点。面对(dui)更(geng)多(duo)高精度的(de)运(yun)算(suan)放大(da)器(qi)、仪表(biao)放大(da)器以(yi)及(ji)差分(fen)放大(da)器(qi)等(deng)器(qi)件(jian)，华(hua)峰(feng)测控的工程(cheng)师(shi)在(zai)研(yan)讨会(hui)上(shang)分享(xiang)了(le)近(jin)几(ji)年的工(gong)作(zuo)成(cheng)果，从(cong)了解器(qi)件(jian)特(te)点和(he)参(can)数(shu)入手(shou)，针(zhen)对(dui)不同(tong)测(ce)试(shi)对(dui)象(xiang)的特点(dian)选择(ze)合(he)理的测试(shi)方(fang)案(an)，再根据现(xian)有(you)测试设(she)备(bei)、仪器仪(yi)表的(de)能(neng)力实现测试(shi)方(fang)案。

每当有(you)真(zhen)实测(ce)试(shi)样(yang)例的(de)分享，参(can)会人员都(dou)听的格(ge)外认真专(zhuan)注(zhu)。

本(ben)次(ci)研(yan)讨(tao)会(hui)的顺(shun)利(li)召开离(li)不开(kai)广(guang)大(da)用户的鼎(ding)力(li)支持(chi)，我们将一如(ru)既(ji)往(wang)的分享(xiang)最(zui)新研发成果(guo)，让(rang)我(wo)们相约(yue)金(jin)秋再见！